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Communication dans un congrès
Comparison of the mineralogy of fine-grained rims and adjacent matrix in the CM Paris chondrite using advanced electron microscopy
Pierre-Marie Zanetta 1
Auteur
Hugues Leroux 1
Auteur
Corentin Le Guillou 1
Auteur
Brigitte Zanda 2
Auteur
1
UMET - Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 (Université Lille 1
Bâtiment C6
59655 Villeneuve d'Ascq - France)
- INRA - Institut National de la Recherche Agronomique : UMR0638 (France)
- ENSCL - Ecole Nationale Supérieure de Chimie de Lille (Cité Scientifique Bât. C7 Avenue Mendeleïev CS 90108 59652 VILLENEUVE D’ASCQ CEDEX - France)
- Université de Lille (Lille - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8207 (France)
2
IMPMC - Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie (Tour 23 - Barre 22-23 - 4e étage - BC 115 - 4 place Jussieu - 75252 Paris - France)
- UPMC - Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 : UM120 (4 place Jussieu - 75005 Paris - France)
- Institut de recherche pour le développement [IRD] : UR206 (France)
- MNHN - Muséum national d'Histoire naturelle (57, rue Cuvier - 75231 Paris Cedex 05 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7590 (France)
Type de document :
Communication dans un congrès
Domaine :
Liste complète des métadonnées
https://hal.univ-lille.fr/hal-02326960
Contributeur : Lilloa Université de Lille Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : mardi 22 octobre 2019 - 16:24:53
Dernière modification le : mercredi 27 octobre 2021 - 04:18:26
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Identifiants
- HAL Id : hal-02326960, version 1
Collections
UNIV-LILLE | INRA | CNRS | INC-CNRS | INRAE | IMPMC | ALLINSP | MNHN | SU-SCIENCES | SORBONNE-UNIVERSITE | USPC
Citation
Pierre-Marie Zanetta, Hugues Leroux, Corentin Le Guillou, Brigitte Zanda. Comparison of the mineralogy of fine-grained rims and adjacent matrix in the CM Paris chondrite using advanced electron microscopy. Understanding the origin of planetodiversity Museum of Paris workshop, Jun 2018, Paris, France. ⟨hal-02326960⟩
Métriques
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