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Poster
Optical, electronic and structural properties of ZnO nanostructures grown at low temperature
Brigitte Sieber
1
H Liu
G Piret
J Laureyns
Pascal Roussel
2
B Gelloz
Sabine Szunerits
Rabah Boukherroub
Pascal Roussel 2
Auteur IdHAL : pascalroussel IdRef : https://www.idref.fr/131004263 ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/A-8578-2011 ORCID : https://orcid.org/0000-0001-7243-7293
B Gelloz
Auteur
Sabine Szunerits
Auteur IdHAL : sabine-szunerits ORCID : https://orcid.org/0000-0002-1567-4943
Rabah Boukherroub
Auteur IdHAL : rabah-boukherroub ORCID : https://orcid.org/0000-0002-9795-9888
1
UMET - Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 (Université Lille 1
Bâtiment C6
59655 Villeneuve d'Ascq - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8207 (France)
- Université de Lille (Lille - France)
- ENSCL - Ecole Nationale Supérieure de Chimie de Lille (Cité Scientifique Bât. C7 Avenue Mendeleïev CS 90108 59652 VILLENEUVE D’ASCQ CEDEX - France)
- INRA - Institut National de la Recherche Agronomique : UMR0638 (France)
2
UCCS - Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 (Cité Scientifique - Bâtiment C3 - 59655 Villeneuve d'Ascq Cedex - France)
- CLIL - Centrale Lille Institut (Cité scientifique CS 20048 59651 Villeneuve d'Ascq cedex - France)
- UA - Université d'Artois : UMR8181 (9 rue du Temple - BP 10665 - 62030 Arras cedex - France)
- Ecole Centrale de Lille : UMR8181 (Cité Scientifique - CS 20048 59651 Villeneuve d'Ascq Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8181 (France)
- Université de Lille : UMR8181 (Lille - France)
Liste complète des métadonnées
https://hal.univ-lille.fr/hal-02330477
Contributeur : Lilloa Université de Lille Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : jeudi 24 octobre 2019 - 08:57:16
Dernière modification le : mercredi 22 septembre 2021 - 13:36:16
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Identifiants
- HAL Id : hal-02330477, version 1
Citation
Brigitte Sieber, H Liu, G Piret, J Laureyns, Pascal Roussel, et al.. Optical, electronic and structural properties of ZnO nanostructures grown at low temperature. Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS) 2010, Jul 2010, Haale, Germany. ⟨hal-02330477⟩
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