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La diffraction des rayons X haute température sous H2 : un outil indispensable pour l’étude des matériaux d’anode pour pile à combustible

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02331755 , version 1 (24-10-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02331755 , version 1

Citer

Pascal Roussel. La diffraction des rayons X haute température sous H2 : un outil indispensable pour l’étude des matériaux d’anode pour pile à combustible. Journées DRX Non-ambiantes, May 2017, Orléans, France. ⟨hal-02331755⟩
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