Fundamental insight into the thermal stability and degradation mechanisms of UiO-67 series MOFs - Université de Lille Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2019

Fundamental insight into the thermal stability and degradation mechanisms of UiO-67 series MOFs

M Boyanich
  • Fonction : Auteur
I Goodenough
  • Fonction : Auteur
V.S.D Devulapalli
  • Fonction : Auteur
L Castellana
  • Fonction : Auteur
Mélissandre Richard
  • Fonction : Auteur
Temple University [Philadelphia]
T-Y Luo
  • Fonction : Auteur
N-L Rosi
  • Fonction : Auteur
E Borguet
  • Fonction : Auteur

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https://hal.univ-lille.fr/hal-03524985

Soumis le : jeudi 13 janvier 2022-15:41:10

Dernière modification le : mardi 9 avril 2024-03:14:31

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Dates et versions

hal-03524985 , version 1 (13-01-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03524985 , version 1

Citer

M Boyanich, I Goodenough, V.S.D Devulapalli, L Castellana, Mélissandre Richard, et al.. Fundamental insight into the thermal stability and degradation mechanisms of UiO-67 series MOFs. ACS YCC 2019, Jul 2019, Philadelphie, United States. ⟨hal-03524985⟩

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