Nanoscale current spreading analysis of electrodeposited silver nanowires network by using the conductive-atomic force microscopy - Université de Lille Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2021

Nanoscale current spreading analysis of electrodeposited silver nanowires network by using the conductive-atomic force microscopy

S. H. Pham
  • Fonction : Auteur
V. Dang Tran
  • Fonction : Auteur
P. Leclère
  • Fonction : Auteur

Domaines

Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04277602 , version 1 (09-11-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04277602 , version 1

Citer

S. H. Pham, Anthony Ferri, Antonio da Costa, V. Dang Tran, Rachel Desfeux, et al.. Nanoscale current spreading analysis of electrodeposited silver nanowires network by using the conductive-atomic force microscopy. NanoScientific Forum Europe 2021 (NSFE), Sep 2021, On-line, Germany. ⟨hal-04277602⟩
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