Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2015
LillOA Université de Lille : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.univ-lille.fr/hal-04433866
Soumis le : vendredi 2 février 2024-09:51:46
Dernière modification le : vendredi 31 mai 2024-15:04:02
Citer
David Rossouw, Pierre Burdet, Francisco de la Peña, Caterina Ducati, Benjamin R. Knappett, et al.. Overcoming Traditional Challenges in Nano-scale X-ray Characterization Using Independent Component Analysis. Microscopy and Microanalysis, 2015, Microscopy and Microanalysis, 21 (S3), pp.1227-1228. ⟨10.1017/s1431927615006923⟩. ⟨hal-04433866⟩
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