Applications des techniques d'analyse de surface XPS/ LEIS / ToF-SIMS - Université de Lille Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Applications des techniques d'analyse de surface XPS/ LEIS / ToF-SIMS

Domaines

Catalyse
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03621555 , version 1 (28-03-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03621555 , version 1

Citer

Anne-Sophie Mamede. Applications des techniques d'analyse de surface XPS/ LEIS / ToF-SIMS. GT "Vide et caractérisations de surfaces" - IEMN, Dec 2021, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-03621555⟩
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