Surface analysis techniques XPS / LEIS / ToF-SIMS - Université de Lille Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Surface analysis techniques XPS / LEIS / ToF-SIMS

Domaines

Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04291474 , version 1 (17-11-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04291474 , version 1

Citer

Anne-Sophie Mamede. Surface analysis techniques XPS / LEIS / ToF-SIMS. GT Vide et caractérisations de surface, Dec 2021, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-04291474⟩
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