Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale

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Communication dans un congrès
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Contributeur : Lilloa Université de Lille <>
Soumis le : jeudi 5 septembre 2019 - 11:56:31
Dernière modification le : vendredi 6 septembre 2019 - 01:17:18

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  • HAL Id : hal-02279451, version 1

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Jeremie Bouquerel, M Delbove, Jean Bernard Vogt, Ahmed Addad. Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale. Electron Back Scatter Diffraction Meeting "EBSD 2016" of the Royal Microscopical Society (RMS),, Mar 2016, Manchester, United Kingdom. ⟨hal-02279451⟩

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