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Communication Dans Un Congrès Année :

Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale

Jeremie Bouquerel
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
M Delbove
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Jean Bernard Vogt
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Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Ahmed Addad
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Chimie Matériaux Physique [physics] Matière Condensée [cond-mat] Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

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Soumis le : jeudi 5 septembre 2019-11:56:31

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:12

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02279451 , version 1 (05-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02279451 , version 1

Citer

Jeremie Bouquerel, M Delbove, Jean Bernard Vogt, Ahmed Addad. Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale. Electron Back Scatter Diffraction Meeting "EBSD 2016" of the Royal Microscopical Society (RMS),, Mar 2016, Manchester, United Kingdom. ⟨hal-02279451⟩

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