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Communication dans un congrès

Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale

Liste complète des métadonnées

https://hal.univ-lille.fr/hal-02279451
Contributeur : Lilloa Université de Lille <>
Soumis le : jeudi 5 septembre 2019 - 11:56:31
Dernière modification le : mardi 17 mars 2020 - 01:34:18

Identifiants

  • HAL Id : hal-02279451, version 1

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Citation

Jeremie Bouquerel, M Delbove, Jean Bernard Vogt, Ahmed Addad. Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale. Electron Back Scatter Diffraction Meeting "EBSD 2016" of the Royal Microscopical Society (RMS),, Mar 2016, Manchester, United Kingdom. ⟨hal-02279451⟩

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