Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale - Université de Lille Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale

Jeremie Bouquerel
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
M Delbove
  • Fonction : Auteur
Jean Bernard Vogt
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Ahmed Addad
  • Fonction : Auteur

Domaines

Matériaux Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

LillOA Université de Lille  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-lille.fr/hal-02279451

Soumis le : jeudi 5 septembre 2019-11:56:31

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:14

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02279451 , version 1 (05-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02279451 , version 1

Citer

Jeremie Bouquerel, M Delbove, Jean Bernard Vogt, Ahmed Addad. Towards plastic damage criteria using OIM analysis at nanoscale and microscale. Electron Back Scatter Diffraction Meeting "EBSD 2016" of the Royal Microscopical Society (RMS),, Mar 2016, Manchester, United Kingdom. ⟨hal-02279451⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS INRA INC-CNRS UNIV-LILLE INRAE
20 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More