Evidencing the Influence of Defects on the Charge Storage Mechanism of Sputtered Vanadium Nitride Pseudocapacitive Electrode
Thierry Brousse
(1)
,
Etienne Le Calvez
(1)
,
Kevin Robert
(2)
,
Marielle Huvé
(3)
,
Maya Marinova
(3)
,
Pascal Roussel
(3)
,
Laurent Fugère
(4, 5)
,
Dmitri Yarekha
(5, 4)
,
Olivier Crosnier
(1)
,
Camille Douard
(1)
,
Christophe Lethien
(6, 5, 7)
1
IMN -
Institut des Matériaux Jean Rouxel
2 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
3 UCCS - Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181
4 CMNF - IEMN - Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN
5 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
6 RS2E - Réseau sur le stockage électrochimique de l'énergie
7 CSAM - IEMN - Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN
2 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
3 UCCS - Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181
4 CMNF - IEMN - Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN
5 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
6 RS2E - Réseau sur le stockage électrochimique de l'énergie
7 CSAM - IEMN - Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN
Pascal Roussel
- Fonction : Auteur
- PersonId : 9428
- IdHAL : pascalroussel
- ORCID : 0000-0001-7243-7293
- IdRef : 131004263
Laurent Fugère
- Fonction : Auteur
- PersonId : 753851
- IdHAL : laurent-fugere
Dmitri Yarekha
- Fonction : Auteur
- PersonId : 746988
- IdHAL : dmitri-yarekha
- IdRef : 068447507
Christophe Lethien
- Fonction : Auteur
- PersonId : 743109
- IdHAL : christophe-lethien
- ORCID : 0000-0001-8906-8308
- IdRef : 081909500